Szczegóły

Tytuł artykułu

Particle Swarm Optimization Algorithm for Leakage Power Reduction in VLSI Circuits

Tytuł czasopisma

International Journal of Electronics and Telecommunications

Rocznik

2016

Wolumin

vol. 62

Numer

No 2

Autorzy

Wydział PAN

Nauki Techniczne

Wydawca

Polish Academy of Sciences Committee of Electronics and Telecommunications

Data

2016

Identyfikator

ISSN 2081-8491 (until 2012) ; eISSN 2300-1933 (since 2013)

Referencje

Wei wang (2007), You sheng Leakage current optimizations during test based on don t care bits assignments of computer science and technology pp Sep, Journal, 673.

DOI

10.1515/eletel-2016-0025

×