Szczegóły

Tytuł artykułu

Some quantum limits for scaling of electronic devices – estimations and measurements

Tytuł czasopisma

Metrology and Measurement Systems

Rocznik

2012

Numer

No 3

Autorzy

Słowa kluczowe

nanostructure ; quantum effect ; integrated circuits.

Wydział PAN

Nauki Techniczne

Zakres

481-488

Wydawca

Polish Academy of Sciences Committee on Metrology and Scientific Instrumentation

Data

2012

Typ

Artykuły / Articles

Identyfikator

ISSN 0860-8229

DOI

10.2478/v10178-012-0041-8

×