Szczegóły

Tytuł artykułu

Analysis of Noise and Non-Linearity of I-V Characteristics of Positive Temperature Coefficient Chip Thermistors

Tytuł czasopisma

Metrology and Measurement Systems

Rocznik

2013

Numer

No 4

Autorzy

Słowa kluczowe

PTC chip sensors ; noise spectroscopy ; I-V characteristic non-linearity ; quality evaluation

Wydział PAN

Nauki Techniczne

Zakres

635-644

Wydawca

Polish Academy of Sciences Committee on Metrology and Scientific Instrumentation

Data

2013

Typ

Artykuły / Articles

Identyfikator

ISSN 0860-8229

DOI

10.2478/mms-2013-0054

×