Tytuł artykułu

Noise Measurements Of Resistors With The Use Of Dual-Phase Virtual Lock-In Technique

Tytuł czasopisma

Metrology and Measurement Systems

Rocznik

2015

Numer

No 4

Autorzy publikacji

Adam Witold Stadler ; Andrzej Kolek ; Zbigniew Zawiślak ; Andrzej Dziedzic

Wydział PAN

Nauki Techniczne

Wydawca

Polish Academy of Sciences Committee on Metrology and Scientific Instrumentation

Identyfikator

ISSN 0860-8229

DOI

10.1515/mms-2015-0051