Szczegóły

Tytuł artykułu

Noise Measurements Of Resistors With The Use Of Dual-Phase Virtual Lock-In Technique

Tytuł czasopisma

Metrology and Measurement Systems

Rocznik

2015

Wolumin

vol. 22

Numer

No 4

Autorzy

Słowa kluczowe

1/f noise ; polymer thick-film resistor ; low-frequency noise measurements ; virtual lock-in

Wydział PAN

Nauki Techniczne

Zakres

503-512

Wydawca

Polish Academy of Sciences Committee on Metrology and Scientific Instrumentation

Data

2015[2015.01.01 AD - 2015.12.31 AD]

Typ

Artykuły / Articles

Identyfikator

ISSN 0860-8229

DOI

10.1515/mms-2015-0051

×