Szczegóły

Tytuł artykułu

Scanning probe microscopy as a metrology method in microand nanostructure investigations

Tytuł czasopisma

Bulletin of the Polish Academy of Sciences: Technical Sciences

Rocznik

2006

Wolumin

vol. 54

Numer

No 1

Autorzy

Słowa kluczowe

scanning probe microscopy ; micro- and nanostructure investigations

Wydział PAN

Nauki Techniczne

Zakres

19-23

Data

2006

Typ

Artykuły / Articles
×