Powrót
Menu
Strona główna
O nas
Czasopisma PAN
Polityka ochrony i archiwizacji
Indeksy
Tytuły czasopism
Autorzy publikacji
Kontakt
A
A
Czcionka domyślna
A
+
Czcionka średnia
A
++
Czcionka duża
Kontrast domyślny
Kontrast czarno-żółty
pl
en
pl
Publikacje PAN
Jak wyszukiwać?
wyszukiwanie zaawansowane
Wyniki wyszukiwania
Szukana fraza:
[Referencje = "Hartwig \(1978\), Tech Phys, 26, 535."]
Filtruj wyniki
Filtruj wyniki
Czasopisma
Archives of Metallurgy and Materials (1)
Wybierz
Autorzy
Fodchuk, I. (1)
Swiątek, Z. (1)
Wybierz
Wyniki wyszukiwania
Wyników:
1
Wyników na stronie:
25
50
75
Sortuj wg:
trafności
popularności
z 1
X-Ray Topography of the Subsurface Crystal Layers in the Skew Asymmetric Reflection Geometry
Z. Swiątek
I. Fodchuk
Archives of Metallurgy and Materials | 2016 | No 4 December
| DOI:
10.1515/amm-2016-0310
Pobierz PDF
Pobierz RIS
Pobierz Bibtex
Autorzy i Afiliacje
Autorzy i Afiliacje
Z. Swiątek
I. Fodchuk
1
Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'.
Więcej informacji
Rozumiem