Powrót
Menu
Strona główna
O nas
Czasopisma PAN
Polityka ochrony i archiwizacji
Indeksy
Tytuły czasopism
Autorzy publikacji
Kontakt
A
A
Czcionka domyślna
A
+
Czcionka średnia
A
++
Czcionka duża
Kontrast domyślny
Kontrast czarno-żółty
pl
en
pl
Publikacje PAN
Jak wyszukiwać?
wyszukiwanie zaawansowane
Wyniki wyszukiwania
Szukana fraza:
[Referencje = "Hellman E. \(1998\), The polarity of GaN\: a critical review, MRS Internet J. Nitride Res, 3, 1."]
Filtruj wyniki
Filtruj wyniki
Czasopisma
Bulletin of the Polish Academy of Sciences Technical Sciences (1)
Wybierz
Autorzy
Hetaba, W. (1)
Häusler, I. (1)
Kirmse, H. (1)
Mogilatenko, A. (1)
Neumann, W. (1)
Zheng, Ch. (1)
Wybierz
Wyniki wyszukiwania
Wyników:
1
Wyników na stronie:
25
50
75
Sortuj wg:
trafności
popularności
z 1
Advanced microstructure diagnostics and interface analysis of modern materials by high-resolution analytical transmission electron microscopy
W. Neumann
H. Kirmse
I. Häusler
A. Mogilatenko
Ch. Zheng
W. Hetaba
Bulletin of the Polish Academy of Sciences Technical Sciences | 2010 | 58 | No 2
| 237-253 | DOI:
10.2478/v10175-010-0023-5
Pobierz PDF
Pobierz RIS
Pobierz Bibtex
Autorzy i Afiliacje
Autorzy i Afiliacje
W. Neumann
H. Kirmse
I. Häusler
A. Mogilatenko
Ch. Zheng
W. Hetaba
1
Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'.
Więcej informacji
Rozumiem