Powrót
Menu
Strona główna
O nas
Czasopisma PAN
Polityka ochrony i archiwizacji
Indeksy
Tytuły czasopism
Autorzy publikacji
Kontakt
A
A
Czcionka domyślna
A
+
Czcionka średnia
A
++
Czcionka duża
Kontrast domyślny
Kontrast czarno-żółty
pl
en
pl
Publikacje PAN
Jak wyszukiwać?
wyszukiwanie zaawansowane
Wyniki wyszukiwania
Szukana fraza:
[Referencje = "Whitehouse \(1978\), The digital measurement of peak parameters on surface profiles of Engineering, Journal Mechanical Science ImechE, 20, 221."]
Filtruj wyniki
Filtruj wyniki
Czasopisma
Bulletin of the Polish Academy of Sciences Technical Sciences (1)
Wybierz
Autorzy
Pawlus, P. (1)
Reizer, R. (1)
Wieczorowski, M. (1)
Żelasko, W. (1)
Wybierz
Wyniki wyszukiwania
Wyników:
1
Wyników na stronie:
25
50
75
Sortuj wg:
trafności
popularności
z 1
The effect of sampling interval on the predictions of an asperity contact model of two-process surfaces
M. Wieczorowski
R. Reizer
P. Pawlus
W. Żelasko
Bulletin of the Polish Academy of Sciences Technical Sciences | 2017 | 65 | No 3
| 391-398 | DOI:
10.1515/bpasts-2017-0044
Pobierz PDF
Pobierz RIS
Pobierz Bibtex
Autorzy i Afiliacje
Autorzy i Afiliacje
M. Wieczorowski
R. Reizer
P. Pawlus
W. Żelasko
1
Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'.
Więcej informacji
Rozumiem