Szczegóły Szczegóły PDF BIBTEX RIS Tytuł artykułu Laser Reflectance Interferometry System with a 405 Nm Laser Diode for in Situ Measurements of CVD Diamond Thickness Tytuł czasopisma Metrology and Measurement Systems Rocznik 2013 Numer No 4 Autorzy Kraszewski, Maciej ; Bogdanowicz, Robert Słowa kluczowe interferometry ; thin films ; CVD ; diamond ; in situ measurements Wydział PAN Nauki Techniczne Zakres 543-554 Wydawca Polish Academy of Sciences Committee on Metrology and Scientific Instrumentation Data 2013 Typ Artykuły / Articles Identyfikator DOI: 10.2478/mms-2013-0046 ; ISSN 2080-9050, e-ISSN 2300-1941 Źródło Metrology and Measurement Systems; 2013; No 4; 543-554 <div class="test"></div>