Szczegóły

Tytuł artykułu

On the design of an automated system for the characterization of the electromigration performance of advanced interconnects by means of low-frequency noise measurements

Tytuł czasopisma

Metrology and Measurement Systems

Rocznik

2019

Wolumin

vol. 26

Numer

No 1

Autorzy

Słowa kluczowe

low-frequency noise measurements ; electron devices reliability ; electro-migration ; dedicated instrumentation

Wydział PAN

Nauki Techniczne

Zakres

13-21

Wydawca

Polish Academy of Sciences Committee on Metrology and Scientific Instrumentation

Data

2019.04.01

Typ

Artykuły / Articles

Identyfikator

DOI: 10.24425/mms.2019.126336 ; ISSN 0860-8229

Źródło

Metrology and Measurement Systems; 2019; vol. 26; No 1; 13-21
×