Szczegóły Szczegóły PDF BIBTEX RIS Tytuł artykułu An assessment of applicability of the two-dimensional wavelet transform to assess the minimum chip thickness determination accuracy Tytuł czasopisma Metrology and Measurement Systems Rocznik 2020 Wolumin vol. 27 Numer No 4 Autorzy Gogolewski, Damian ; Makieła, Włodzimierz ; Nowakowski, Łukasz Słowa kluczowe Wavelet analysis ; face milling ; minimum chip thickness ; surface texture Wydział PAN Nauki Techniczne Zakres 659-672 Wydawca Polish Academy of Sciences Committee on Metrology and Scientific Instrumentation Data 2021.01.07 Typ Article Identyfikator DOI: 10.24425/mms.2020.134845 ; e-ISSN 2300-1941 Źródło Metrology and Measurement Systems; 2020; vol. 27; No 4; 659-672 <div class="test"></div>