Szczegóły

Tytuł artykułu

An assessment of applicability of the two-dimensional wavelet transform to assess the minimum chip thickness determination accuracy

Tytuł czasopisma

Metrology and Measurement Systems

Rocznik

2020

Wolumin

vol. 27

Numer

No 4

Autorzy

Słowa kluczowe

Wavelet analysis ; face milling ; minimum chip thickness ; surface texture

Wydział PAN

Nauki Techniczne

Zakres

659-672

Wydawca

Polish Academy of Sciences Committee on Metrology and Scientific Instrumentation

Data

2021.01.07

Typ

Article

Identyfikator

DOI: 10.24425/mms.2020.134845 ; ISSN 0860-8229

Źródło

Metrology and Measurement Systems; 2020; vol. 27; No 4; 659-672
×