Szczegóły Szczegóły PDF BIBTEX RIS Tytuł artykułu Analog circuits specification driven testing by the means of digital stream and non-linear estimation model optimized evolutionarily Tytuł czasopisma Bulletin of the Polish Academy of Sciences Technical Sciences Rocznik 2020 Wolumin 68 Numer No. 6 Autorzy Golonek, T. ; Chruszczyk, Ł. Słowa kluczowe analog electronic circuits ; specification driven testing ; evolutionary computations ; multiple regression Wydział PAN Nauki Techniczne Zakres 1283-1299 Data 31.12.2020 Typ Article Identyfikator DOI: 10.24425/bpasts.2020.135390 ; ISSN 2300-1917 Źródło Bulletin of the Polish Academy of Sciences: Technical Sciences; 2020; 68; No. 6; 1283-1299 <div class="test"></div>