Szczegóły Szczegóły PDF BIBTEX RIS Tytuł artykułu Application of nonlinear regression in the analysis of relaxation photocurrent waveforms Tytuł czasopisma Metrology and Measurement Systems Rocznik 2023 Wolumin vol. 30 Numer No 4 Afiliacje Kaczmarek, Witold : Institute of Electronic Systems, Department of Electronics, Military University of Technology, ul. gen. Sylwestra Kaliskiego 2, 00-908 Warszawa, Poland ; Suproniuk, Marek : Institute of Electronic Systems, Department of Electronics, Military University of Technology, ul. gen. Sylwestra Kaliskiego 2, 00-908 Warszawa, Poland ; Piwowarski, Karol : Institute of Electronic Systems, Department of Electronics, Military University of Technology, ul. gen. Sylwestra Kaliskiego 2, 00-908 Warszawa, Poland ; Perka, Bogdan : Institute of Electronic Systems, Department of Electronics, Military University of Technology, ul. gen. Sylwestra Kaliskiego 2, 00-908 Warszawa, Poland ; Paziewski, Piotr : Institute of Electronic Systems, Department of Electronics, Military University of Technology, ul. gen. Sylwestra Kaliskiego 2, 00-908 Warszawa, Poland Autorzy Kaczmarek, Witold ; Suproniuk, Marek ; Piwowarski, Karol ; Perka, Bogdan ; Paziewski, Piotr Słowa kluczowe defect centers ; semiconductor materials ; nonlinear regression method Wydział PAN Nauki Techniczne Zakres 605-616 Wydawca Polish Academy of Sciences Committee on Metrology and Scientific Instrumentation Data 16.11.2023 Typ Article Identyfikator DOI: 10.24425/mms.2023.147950 ; eISSN 2300-1941