Szczegóły Szczegóły PDF BIBTEX RIS Tytuł artykułu Study of the spatial distribution of minority carrier diffusion length in epiplanar detector structures Tytuł czasopisma Opto-Electronics Review Rocznik 2015 Wolumin vol. 23 Numer No 4 Autorzy Piotrowski, T. ; Węgrzecki, M. ; Stolarski, M. ; Gościński, K. ; Krajewski, T. Słowa kluczowe effective minority diffusion length ; surface recombination velocity ; epiplanar detector ; p-n structures Wydział PAN Nauki Techniczne Zakres 265-270 Wydawca Polish Academy of Sciences (under the auspices of the Committee on Electronics and Telecommunication) and Association of Polish Electrical Engineers in cooperation with Military University of Technology Data 07.10.2015 Typ Article Identyfikator ISSN 1896-3757 Źródło Opto-Electronics Review; 2015; vol. 23; No 4; 265-270